P‐1.13: The effects of post‐annealing and pre‐annealing treatments on PEALD deposited IGZO top gate TFT

Fuente: Wiley Open Access
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Shuaiying Zheng, Yuxiang Li
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
Materias:
Acceso en línea:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!