P‐1.23: Reliability Analysis of IGZO‐TFT in X‐ray Imaging Detection Technology

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Wei Guo, Zhe Dong, Qibin Feng, Zi Wang, Guoqiang Lv
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2025
Sujets:	SID Symposium Digest of Technical Papers
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