P‐1.23: Reliability Analysis of IGZO‐TFT in X‐ray Imaging Detection Technology

Fuente: Wiley Open Access
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Hauptverfasser: Wei Guo, Zhe Dong, Qibin Feng, Zi Wang, Guoqiang Lv
Format: Artículo Open Access
Veröffentlicht: Wiley 2025
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