Quantification of secondary ion mass spectrometry measurements by using ion‐implanted metallic standards

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Guiomar Delgado Soria, María González, Miguel Luis Crespillo, Jesús Sánchez Prieto, Gastón García
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	Surface and Interface Analysis
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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