Quantification of secondary ion mass spectrometry measurements by using ion‐implanted metallic standards

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Guiomar Delgado Soria, María González, Miguel Luis Crespillo, Jesús Sánchez Prieto, Gastón García
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2024
Sujets:	Surface and Interface Analysis
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