Depth profile study of LaAl 1‐x Cr x O 3 /SrTiO 3 ( x = 0, 0.2, 0.6, and 1) using time of flight secondary ion mass spectrometry (TOF‐SIMS)
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Wiley Open Access
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| Format: | Artículo Open Access |
| Publié: |
Wiley
2024
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| DOI: | 10.1002/sia.7341 |
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