Depth profile study of LaAl 1‐x Cr x O 3 /SrTiO 3 ( x = 0, 0.2, 0.6, and 1) using time of flight secondary ion mass spectrometry (TOF‐SIMS)
Fuente:
Wiley Open Access
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|---|---|
| Natura: | Artículo Open Access |
| Pubblicazione: |
Wiley
2024
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