Depth Profiles of Crystallinity and Preferential Orientation and Surface Characteristics of Sputter‐Deposited CeO 2 Thin Film Buffer Layers on Sapphire Substrates Evaluated Through Two‐Dimensional Grazing‐Incidence X‐Ray Diffraction

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Tatsuo Fukano, Hiroshi Nozaki, Keita Funayama, Takashi Katsuno, Tomoyuki Koganezawa, Masashi Harada, Hiroyuki Kawaura
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	Surface and Interface Analysis
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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