Effect of Rare Earth Y and Metal X (Co, Mn, Ni, Cu) Elements on Cr Diffusion Behavior of SOFC Metallic Interconnect

Fuente: Wiley Open Access

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Kun Li, Yong‐Shuai Zhang, Yu‐Jing Liu, Chen‐Yang He, Hao Yun, Wen Yang
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2024
Sujets:	Surface and Interface Analysis
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