XPS and p‐ARXPS Analysis of Nanometric‐Thick Polyphosphazene Film on Undoped n‐InP 10 15 /cm 3

Fuente: Wiley Open Access
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gianluca Visagli, Arnaud Etchberry, Mathieu Frégraux, Anne‐Marie Gonçalves
Formato: Artículo Open Access
Publicado: Wiley 2025
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