Search‐Based MC/DC Test Data Generation With OCL Constraints

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Hassan Sartaj, Muhammad Zohaib Iqbal, Atif Aftab Ahmed Jilani, Muhammad Uzair Khan
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	Software Testing, Verification and Reliability
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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