Genome‐wide association mapping for field spot blotch resistance in South Asian spring wheat genotypes

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Umesh Kamble, Xinyao He, Sudhir Navathe, Manjeet Kumar, Madhu Patial, Muhammad Rezaul Kabir, Gyanendra Singh, Gyanendra Pratap Singh, Arun Kumar Joshi, Pawan Kumar Singh
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	The Plant Genome
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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