Mapping novel yellow and leaf rust loci and predicting resistance in cross derived Canadian durum wheat

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Juan Menor de Gaspar, Alejandro Domínguez Rondón, Julián García‐Abadillo, Ron Knox, Firdissa E. Bokore, Kerry Boyle, Karim Ammar, Julio Huerta‐Espino, Samia Berraies, Brad Meyer, Wentao Zhang, Richard D. Cuthbert, Fobert Pierre, Yuefeng Ruan, Julio Isidro y Sánchez
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	The Plant Genome
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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