Genetic identification and characterization of novel loci for flag leaf morphology traits in Chinese endemic wheat

Fuente: Wiley Open Access

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Md Nahibuzzaman Lohani, Longxing Su, Lu Lu, Li Yin, Yanlin Liu, Qiang Xu, Yunfeng Jiang, Qiantao Jiang, Guoyue Chen, Yuming Wei, Chunji Liu, Quan Xie, Jian Ma
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2026
Materias:	The Plant Genome
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet