BRDF Importance Baking: A Lightweight Neural Solution to Importance Sampling General Parametric BRDFs

Fuente: Wiley Open Access

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Auteurs principaux:	Yaoyi Bai, Songyin Wu, Zheng Zeng, Lingqi Yan, Beibei Wang
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2025
Sujets:	Computer Graphics Forum
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