High‐voltage electron microscopy analyses for crack‐tip dislocations and their shielding effect on fracture toughness in MgO and Si crystals

Fuente: Wiley Open Access
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Auteurs principaux: Kenji Higashida, Sunao Sadamatsu, Masaki Tanaka
Format: Artículo Open Access
Publié: Wiley 2025
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