Stiff TiN Network in Si 3 N 4 : Achieving High Strength, Toughness, and EMI Shielding

Fuente: Wiley Open Access

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Baokuo Nie, Xinghua Shen, Tongyang Li, Yuan Yu, Lujie Wang, Huaguo Tang, Zhuhui Qiao
Format:	Artículo Open Access
Publié:	Wiley 2026
Sujets:	Journal of the American Ceramic Society
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