Study of curtaining effect reduction methods in Inconel 718 using a plasma focused ion beam

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	F. Jaime, S. Desbief, J. Silvent, G. Goupil, M. Bernacki, N. Bozzolo, A. Nicolaÿ
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2024
Materias:	Journal of Microscopy
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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