Resolution enhancement of total internal reflection microscopy via polarised scattering

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Chenguang Liu, Zhao Chen, Zhenlong Xu, Qinhai Yang, Jian Liu
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	Journal of Microscopy
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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