Stability of electron ptychography at low electron dose

Fuente: Wiley Open Access

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	M. Dearg, N. Michaelides, J. Gilbert, Z. Ding, Z. Aslam, D. G. Hopkinson, C. S. Allen, L. Clark
Formato:	Artículo Open Access
Publicado:	Wiley 2025
Materias:	Journal of Microscopy
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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