Multimodal optical microscopy defect detection method for indium bump arrays based on multi‐scale Demons deformation field difference

Fuente: Wiley Open Access
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Auteurs principaux: Yifei Li, Ziyi Wang, Yong Li, Chenguang Liu, Jian Liu, Xu Hu, Xiaoyu You
Format: Artículo Open Access
Publié: Wiley 2026
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