A Deep Learning-Monte Carlo Combined Prediction of Side-Effect Impact Ionization in Highly Doped GaN Diodes

Fuente: Zenodo

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Auteurs principaux:	García-Sánchez, Sergio, Rengel, Raul, Pérez, Susana, González, Tomás, Mateos, Javier
Format:	Recurso digital
Langue:	anglais
Publié:	Zenodo 2023
Sujets:	Gunn diodes doped GaN THz generation Monte Carlo simulations electronic transport artificial intelligence (AI) deep learning
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