Electron Microscopy and White Light Interferometry Fractography Images of Ti64 Compact Tension Specimens

Fuente: Zenodo

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Jones, Katelyn, Shade, Paul, John, Reji, Musinski, William, Pilchak, Adam, Chapman, Michael, Holm, Elizabeth, Rollett, Anthony
Formato:	Recurso digital
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Zenodo 2024
Materias:	fractography Ti64 fatige fracture materials science metal multimodal secondary electron microscopy backscattered electron microscopy scanning white light interferometry Ti-6Al-4V SEM microscopy electron microscopy
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://doi.org/10.18126/qpb3-7246