Electron Microscopy and White Light Interferometry Fractography Images of Ti64 Compact Tension Specimens

Fuente: Zenodo

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Jones, Katelyn, Shade, Paul, John, Reji, Musinski, William, Pilchak, Adam, Chapman, Michael, Holm, Elizabeth, Rollett, Anthony
Format:	Recurso digital
Langue:	anglais
Publié:	Zenodo 2024
Sujets:	fractography Ti64 fatige fracture materials science metal multimodal secondary electron microscopy backscattered electron microscopy scanning white light interferometry Ti-6Al-4V SEM microscopy electron microscopy
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