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Auteurs principaux: Jones, Katelyn, Shade, Paul, John, Reji, Musinski, William, Pilchak, Adam, Chapman, Michael, Holm, Elizabeth, Rollett, Anthony
Format: Recurso digital
Langue:anglais
Publié: Zenodo 2024
Sujets:
fractography
Ti64
fatige fracture
materials science
metal
multimodal
secondary electron microscopy
backscattered electron microscopy
scanning white light interferometry
Ti-6Al-4V
SEM
microscopy
electron microscopy
Accès en ligne:https://doi.org/10.18126/qpb3-7246
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https://doi.org/10.18126/qpb3-7246

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