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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Rajapriyadharshini, B, Renisha, V, Shivani, S, Bharath Kumar, S, Latha, P
Natura: Recurso digital
Lingua:
Pubblicazione: Zenodo 2024
Soggetti:
Integrated Circuit (IC); Design Rule Check (DRC); Layout Versus Schematic (LVS); Resistance- Capacitance (RC); Graphic Design System (GDS); Metal Oxide Semiconductor (MOS); Assura Verification (AV)
Accesso online:https://doi.org/10.5281/zenodo.15455573
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