Análisis elipsométrico de nanoestructuras híbridas Semiconductor/Metal: Co/AlN/AL2O3 y AlN/Co/AlN/AL2O3

Fuente: Zenodo
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Auteurs principaux: Fermin, José R., Rincón, Dario, Marín, Giovanni, Chesman Feitosa, Carlos
Format: Recurso digital
Langue:espagnol
Publié: Zenodo 2017
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author Fermin, José R.
Rincón, Dario
Marín, Giovanni
Chesman Feitosa, Carlos
author_facet Fermin, José R.
Rincón, Dario
Marín, Giovanni
Chesman Feitosa, Carlos
contents <p>Presentamos un estudio sobre las propiedades ópticas de nanoestructuras híbridas Co(10nm)/AlN(5nm) y AlN(10 nm)/Co(10 nm)/AlN(5 nm), crecidas mediante magnetrón evaporación catódica RF asistida por magnetrones, sobre sustratos de α-Al2O3(0001). La técnica de Espectroscopia Elipsométrica es empleada para obtener los parámetros elipsométricos (∆,Ψ), y a partir de estos determinar las funciones dieléctricas (ε1,ε2).La data experimental es analizada en el marco de modelo teórico de capas equivalentes, el cual consiste en las superposiciones parciales de las propiedades semiconductoras del AlN con las propiedades de transporte electrónico del Co. Estos sistemas poseen las propiedades intrínsecas básicas de los elementos constituyentes,sin embargo, para explicar las propiedades ópticas observadas a nivel de la nano-escala es necesario considerar procesos de relajación electromagnética adicionales, tales como dispersión de luz en las capas de AlN. Otro efecto interesante es el desplazamiento de las oscilaciones plasmónicas volumétricas del AlN y Co desde el UV, hacia la banda VIS en la nanoestructura.</p> <p> </p>
format Recurso digital
id zenodo_https___doi_org_10_5281_zenodo_15642333
institution Zenodo
language spa
publishDate 2017
publisher Zenodo
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spellingShingle Análisis elipsométrico de nanoestructuras híbridas Semiconductor/Metal: Co/AlN/AL2O3 y AlN/Co/AlN/AL2O3
Fermin, José R.
Rincón, Dario
Marín, Giovanni
Chesman Feitosa, Carlos
Espectroscopía Elipsométrica
Nitruro de Aluminio
Modelo de Capas Equivalentes
Nanoestructuras híbridas
Modelo de Lorentz Dispersivo
<p>Presentamos un estudio sobre las propiedades ópticas de nanoestructuras híbridas Co(10nm)/AlN(5nm) y AlN(10 nm)/Co(10 nm)/AlN(5 nm), crecidas mediante magnetrón evaporación catódica RF asistida por magnetrones, sobre sustratos de α-Al2O3(0001). La técnica de Espectroscopia Elipsométrica es empleada para obtener los parámetros elipsométricos (∆,Ψ), y a partir de estos determinar las funciones dieléctricas (ε1,ε2).La data experimental es analizada en el marco de modelo teórico de capas equivalentes, el cual consiste en las superposiciones parciales de las propiedades semiconductoras del AlN con las propiedades de transporte electrónico del Co. Estos sistemas poseen las propiedades intrínsecas básicas de los elementos constituyentes,sin embargo, para explicar las propiedades ópticas observadas a nivel de la nano-escala es necesario considerar procesos de relajación electromagnética adicionales, tales como dispersión de luz en las capas de AlN. Otro efecto interesante es el desplazamiento de las oscilaciones plasmónicas volumétricas del AlN y Co desde el UV, hacia la banda VIS en la nanoestructura.</p> <p> </p>
title Análisis elipsométrico de nanoestructuras híbridas Semiconductor/Metal: Co/AlN/AL2O3 y AlN/Co/AlN/AL2O3
topic Espectroscopía Elipsométrica
Nitruro de Aluminio
Modelo de Capas Equivalentes
Nanoestructuras híbridas
Modelo de Lorentz Dispersivo
url https://doi.org/10.5281/zenodo.15642333