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Benefits of On-wafer Calibration for RF Characterization of InP DHBT Technology Devices

Fuente: Zenodo

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	CISSE, Moussa, Davy, Nil, Nodjiadjim, Virginie, Ardouin, Bertrand, Mismer, Colin, Maneux, Cristell, Marc, Franc¸ois, Deng, Marina
Natura:	Recurso digital
Lingua:	inglese
Pubblicazione:	Zenodo 2025
Soggetti:	RF on-wafer characterization. calibration openshort de-embedding EM simulation bipolar transistors indium phosphide (InP)
Accesso online:	Acceder al recurso
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