Radiation-Induced Reliability Degradation in Semiconductor Devices Used in Nuclear Reactor Instrumentation: A Review

Fuente: Zenodo

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Auteur principal:	IFTIKHAR, LAIBA
Format:	Recurso digital
Publié:	Zenodo 2026
Sujets:	Affect/radiation effects Nuclear reactor instrumentation Semiconductor devices Total ionizing dose (TID) Displacement damage Radiation-hardened electronics
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