Risultati della ricerca - Curson, Neil

  • Mostra 1 - 10 risultati su 10
Raffina i risultati
  1. 1
    Copertina

    Spatially resolved dielectric loss at the Si/SiO$_2$ interface Autoría: Cowie, Megan, Stock, Taylor J. Z., Constantinou, Procopios C., Curson, Neil, Grütter, Peter

    Pubblicazione 2023
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  2. 2
    Copertina

    Spatially resolved random telegraph fluctuations of a single trap at the Si/SiO2 interface Autoría: Cowie, Megan, Constantinou, Procopios C., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grutter, Peter

    Pubblicazione 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  3. 3
    Copertina

    Generative Image Restoration and Super-Resolution using Physics-Informed Synthetic Data for Scanning Tunneling Microscopy Autoría: Kolev, Nikola L., Rodani, Tommaso, Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Cazzaniga, Alberto

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  4. 4
    Copertina

    Needle in a haystack: efficiently finding atomically defined quantum dots for electrostatic force microscopy Autoría: Bustamante, José, Miyahara, Yoichi, Fairgrieve-Park, Logan, Spruce, Kieran, See, Patrick, Curson, Neil, Stock, Taylor, Grutter, Peter

    Pubblicazione 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  5. 5
    Copertina

    Overcoming Data Scarcity in Scanning Tunnelling Microscopy Image Segmentation Autoría: Kolev, Nikola L., Trouton, Max, Canova, Filippo Federici, Thornton, Geoff, Gao, David Z., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z.

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  6. 6
    Copertina

    Imaging the Acceptor Wave Function Anisotropy in Silicon Autoría: Siegl, Manuel, Zanon, Julian, Sink, Joseph, da Cruz, Adonai Rodrigues, Hedgeland, Holly, Curson, Neil J., Flatté, Michael E., Schofield, Steven R.

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  7. 7
    Copertina

    Hydrogen Passivation Effects on Spatially Resolved Charge Trap Densities in Si(100)-SiO$_2$ Autoría: Czarnecki, Adam J., Kolev, Nikola L., See, Patrick, Sullivan, Nick, Behn, Wyatt A., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grütter, Peter

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  8. 8
    Copertina

    Strong electron-electron interactions in a dilute weakly-localized metal near a metal-to-insulator transition Autoría: D'Anna, Nicolò, Bragg, Jamie, McConnell, Aidan G., Vonka, Jakub, Constantinou, Procopios C., Li, Juerong, Stock, Taylor J. Z., Schofield, Steven R., Curson, Neil J., Soh, Y., Bartkowiak, Marek, Gerber, Simon, Müller, Markus, Matmon, Guy, Aeppli, Gabriel

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  9. 9
    Copertina

    Element-specific, non-destructive profiling of layered heterostructures Autoría: D'Anna, Nicolò, Bragg, Jamie, Skoropata, Elizabeth, Hernández, Nazareth Ortiz, McConnell, Aidan G., Clémence, Maël, Ueda, Hiroki, Constantinou, Procopios C., Spruce, Kieran, Stock, Taylor J. Z., Fearn, Sarah, Schofield, Steven R., Curson, Neil J., Sanchez, Dario Ferreira, Grolimund, Daniel, Staub, Urs, Matmon, Guy, Gerber, Simon, Aeppli, Gabriel

    Pubblicazione 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:
  10. 10
    Copertina

    Roadmap on Atomic-scale Semiconductor Devices Autoría: Schofield, Steven R., Fisher, Andrew J., Ginossar, Eran, Lyding, Joseph W., Silver, Richard, Fei, Fan, Namboodiri, Pradeep, Wyrick, Jonathan, Masteghin, M. G., Cox, D. C., Murdin, B. N., Clowes, S. K, Keizer, Joris G., Simmons, Michelle Y., Stemp, Holly G., Morello, Andrea, Voisin, Benoit, Rogge, Sven, Wolkow, Robert A., Livadaru, Lucian, Pitters, Jason, Stock, Taylor J. Z., Curson, Neil J., Butera, Robert E., Pavlova, Tatiana V., Jakob, A. M., Spemann, D., Räcke, P., Schmidt-Kaler, F., Jamieson, D. N., Pratiush, Utkarsh, Duscher, Gerd, Kalinin, Sergei V., Kazazis, Dimitrios, Constantinou, Procopios, Aeppli, Gabriel, Ekinci, Yasin, Owen, James H. G., Fowler, Emma, Moheimani, S. O. Reza, Randall, John N., Misra, Shashank, Ivie, Jeffrey, Allemang, Christopher R., Anderson, Evan M., Bussmann, Ezra, Campbell, Quinn, Gao, Xujiao, Lu, Tzu-Ming, Schmucker, Scott W.

    Pubblicazione 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
    Acceso al recurso
    Enlace del recurso

    Aggiungi alla lista
    Salvato in:

Strumenti per la ricerca: