Résultats de la recherche - Grutter, Peter

Probing Electrocatalytic Gas Evolution Reaction at Pt by Force Noise Measurements. Part 2. Oxygen par Bodappa, Nataraju, Jerkiewicz, Gregory, Grutter, Peter

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afspm: A Framework for Manufacturer-Agnostic Automation in Scanning Probe Microscopy par Sullivan, Nicholas J., Valdés, Julio J., Bevan, Kirk H., Grutter, Peter

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Spatially resolved dielectric loss at the Si/SiO$_2$ interface par Cowie, Megan, Stock, Taylor J. Z., Constantinou, Procopios C., Curson, Neil, Grütter, Peter

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Spatially resolved random telegraph fluctuations of a single trap at the Si/SiO2 interface par Cowie, Megan, Constantinou, Procopios C., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grutter, Peter

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Optical excitation of atomic force microscopy cantilever for accurate spectroscopic measurements par Miyahara, Yoichi, Griffin, Harrisonn, Roy-Gobeil, Antoine, Belyansky, Ron, Bergeron, Hadallia, Bustamante, José, Grutter, Peter

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Probing Electrocatalytic Gas Evolution Reaction at Pt by Force Noise Measurements. Part 1-Hydrogen par Bodappa, Nataraju, Zhang, Zixiao, Yazdaanpanah, Ramin, Behn, Wyatt, Bevan, Kirk H., Jerkiewicz, Gregory, Grutter, Peter

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Needle in a haystack: efficiently finding atomically defined quantum dots for electrostatic force microscopy par Bustamante, José, Miyahara, Yoichi, Fairgrieve-Park, Logan, Spruce, Kieran, See, Patrick, Curson, Neil, Stock, Taylor, Grutter, Peter

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Hydrogen Passivation Effects on Spatially Resolved Charge Trap Densities in Si(100)-SiO$_2$ par Czarnecki, Adam J., Kolev, Nikola L., See, Patrick, Sullivan, Nick, Behn, Wyatt A., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grütter, Peter

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