Search Results - Grutter, Peter

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    Probing Electrocatalytic Gas Evolution Reaction at Pt by Force Noise Measurements. Part 2. Oxygen Autoría: Bodappa, Nataraju, Jerkiewicz, Gregory, Grutter, Peter

    Published 2025
    Fuente: arXiv
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  2. 2
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    afspm: A Framework for Manufacturer-Agnostic Automation in Scanning Probe Microscopy Autoría: Sullivan, Nicholas J., Valdés, Julio J., Bevan, Kirk H., Grutter, Peter

    Published 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  3. 3
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    Spatially resolved dielectric loss at the Si/SiO$_2$ interface Autoría: Cowie, Megan, Stock, Taylor J. Z., Constantinou, Procopios C., Curson, Neil, Grütter, Peter

    Published 2023
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  4. 4
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    Spatially resolved random telegraph fluctuations of a single trap at the Si/SiO2 interface Autoría: Cowie, Megan, Constantinou, Procopios C., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grutter, Peter

    Published 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  5. 5
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    Optical excitation of atomic force microscopy cantilever for accurate spectroscopic measurements Autoría: Miyahara, Yoichi, Griffin, Harrisonn, Roy-Gobeil, Antoine, Belyansky, Ron, Bergeron, Hadallia, Bustamante, José, Grutter, Peter

    Published 2019
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  6. 6
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    Probing Electrocatalytic Gas Evolution Reaction at Pt by Force Noise Measurements. Part 1-Hydrogen Autoría: Bodappa, Nataraju, Zhang, Zixiao, Yazdaanpanah, Ramin, Behn, Wyatt, Bevan, Kirk H., Jerkiewicz, Gregory, Grutter, Peter

    Published 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  7. 7
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    Needle in a haystack: efficiently finding atomically defined quantum dots for electrostatic force microscopy Autoría: Bustamante, José, Miyahara, Yoichi, Fairgrieve-Park, Logan, Spruce, Kieran, See, Patrick, Curson, Neil, Stock, Taylor, Grutter, Peter

    Published 2024
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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  8. 8
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    Hydrogen Passivation Effects on Spatially Resolved Charge Trap Densities in Si(100)-SiO$_2$ Autoría: Czarnecki, Adam J., Kolev, Nikola L., See, Patrick, Sullivan, Nick, Behn, Wyatt A., Curson, Neil J., Stock, Taylor J. Z., Grütter, Peter

    Published 2025
    Fuente: arXiv
    Tipo de material: Preprint
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