Resultados de búsqueda - Jan Neuman

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    Adaptive Scalpel Scanning Probe Microscopy for Enhanced Volumetric Sensing in Tomographic Analysis Autoría: Md Ashiqur Rahman Laskar, Giuseppe Leonetti, Gianluca Milano, Ondřej Novotný, Jan Neuman, Sefaattin Tongay, Umberto Celano

    Publicado 2024
    Fuente: Wiley Open Access
    Tipo de material: Artículo Open Access
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    Electron‐Beam Excited Conductive Atomic Force Microscopy for Back Contact Free, Wafer‐Scale and In‐Line Compatible Electrical Characterization of 2D Materials Autoría: Md Ashiqur Rahman Laskar, Sakib Ahmed, Pinakapani Tummala, Alessandro Molle, Alessio Lamperti, Renee Sailus, Youssry Y Botros, Milan Pesic, Rob Davenport, Ondřej Novotný, Jan Neuman, Fabrizio Toia, Ivan Sanchez Esqueda, Seth Ariel Tongay, Umberto Celano

    Publicado 2025
    Fuente: Wiley Open Access
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    Electron‐Beam Excited Conductive Atomic Force Microscopy for Back Contact Free, Wafer‐Scale and In‐Line Compatible Electrical Characterization of 2D Materials (Adv. Sci. 44/2025)... Autoría: Md Ashiqur Rahman Laskar, Sakib Ahmed, Pinakapani Tummala, Alessandro Molle, Alessio Lamperti, Renee Sailus, Youssry Y Botros, Milan Pesic, Rob Davenport, Ondřej Novotný, Jan Neuman, Fabrizio Toia, Ivan Sanchez Esqueda, Seth Ariel Tongay, Umberto Celano

    Publicado 2025
    Fuente: Wiley Open Access
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