A semi-analytical approach for the characterization of ordered 3D nano structures using grazing-incidence X-ray fluorescence

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Nikolaev, K. V., Soltwisch, V., Hoenicke, P., Scholze, F., de la Rie, J., Yakunin, S. N., Makhotkin, I. A., van de Kruijs, R. W. E., Bijkerk, F.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2019
Schlagworte:	Computational Physics Mesoscale and Nanoscale Physics Optics
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https://arxiv.org/abs/1908.11452