Meyer, J. J., Khatri, S., França, D. S., Eisert, J., & Faist, P. (2023). Quantum metrology in the finite-sample regime.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Meyer, Johannes Jakob, Sumeet Khatri, Daniel Stilck França, Jens Eisert, e Philippe Faist. Quantum Metrology in the Finite-sample Regime. 2023.
Citatione MLA (9a ed.)Meyer, Johannes Jakob, et al. Quantum Metrology in the Finite-sample Regime. 2023.
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