Yoon, H., Keum, C., Witkowski, A., Ludzik, J., Petrie, T., Hanson, H. A., & Leachman, S. A. (2024). Enhancing Diagnosis through AI-driven Analysis of Reflectance Confocal Microscopy.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Yoon, Hong-Jun, Chris Keum, Alexander Witkowski, Joanna Ludzik, Tracy Petrie, Heidi A. Hanson, und Sancy A. Leachman. Enhancing Diagnosis Through AI-driven Analysis of Reflectance Confocal Microscopy. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Yoon, Hong-Jun, et al. Enhancing Diagnosis Through AI-driven Analysis of Reflectance Confocal Microscopy. 2024.
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