Wei, J., Xu, Z., Shen, W., Feng, B., Ishikawa, R., Shibata, N., . . . Bai, X. (2024). Real-space tilting method for atomic resolution STEM imaging of nanocrystalline materials.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Wei, Jiake, Zhangze Xu, Wenjie Shen, Bin Feng, Ryo Ishikawa, Naoya Shibata, Yuichi Ikuhara, e Xuedong Bai. Real-space Tilting Method for Atomic Resolution STEM Imaging of Nanocrystalline Materials. 2024.
Citatione MLA (9a ed.)Wei, Jiake, et al. Real-space Tilting Method for Atomic Resolution STEM Imaging of Nanocrystalline Materials. 2024.
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