Dong, Z., Zhang, Y., Chiu, C., Lu, S., Zhang, J., Liu, Y., . . . Chen, Z. (2024). Sub-nanometer depth resolution and single dopant visualization achieved by tilt-coupled multislice electron ptychography.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Dong, Zehao, et al. Sub-nanometer Depth Resolution and Single Dopant Visualization Achieved by Tilt-coupled Multislice Electron Ptychography. 2024.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Dong, Zehao, et al. Sub-nanometer Depth Resolution and Single Dopant Visualization Achieved by Tilt-coupled Multislice Electron Ptychography. 2024.
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