Style de citation APA (7e éd.)

Tröger, J., Kersting, R., Hagenhoff, B., Bougeard, D., Abrosimov, N. V., Klos, J., . . . Bracht, H. (2024). Optimizing ToF-SIMS Depth Profiles of Semiconductor Heterostructures.

Style de citation Chicago (17e éd.)

Tröger, Jan, Reinhard Kersting, Birgit Hagenhoff, Dominique Bougeard, Nikolay V. Abrosimov, Jan Klos, Lars R. Schreiber, et Hartmut Bracht. Optimizing ToF-SIMS Depth Profiles of Semiconductor Heterostructures. 2024.

Style de citation MLA (9e éd.)

Tröger, Jan, et al. Optimizing ToF-SIMS Depth Profiles of Semiconductor Heterostructures. 2024.