High-throughput Screening of Ferrimagnetic Semiconductors With Ultrahigh N$\acute{e}$el Temperature

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Wang, Haidi, Feng, Qingqing, Li, Shuo, Lin, Wei, Zhu, Weiduo, Chen, Zhao, Li, Zhongjun, Liu, Xiaofeng, Li, Xingxing
Formato:	Preprint
Publicado:	2024
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2411.04481