Zhang, Y., Baker, B., Chen, S., Zhang, C., Huang, Y., Zhao, Q., & Bom, S. (2025). Detecting Defective Wafers Via Modular Networks.
Style de citation Chicago (17e éd.)Zhang, Yifeng, Bryan Baker, Shi Chen, Chao Zhang, Yu Huang, Qi Zhao, et Sthitie Bom. Detecting Defective Wafers Via Modular Networks. 2025.
Style de citation MLA (9e éd.)Zhang, Yifeng, et al. Detecting Defective Wafers Via Modular Networks. 2025.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.