Li, W., Zou, Y., Liang, Y., Moura, J., & Blanton, S. (2025). DEFT: Differentiable Automatic Test Pattern Generation.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Li, Wei, Yang Zou, Yixin Liang, José Moura, und Shawn Blanton. DEFT: Differentiable Automatic Test Pattern Generation. 2025.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Li, Wei, et al. DEFT: Differentiable Automatic Test Pattern Generation. 2025.
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