Chatterjee, A., Spitzer, N., Kruck, T., Song, P., Ludwig, A., Wieck, A. D., . . . Pawlak, M. (2026). Beam-Offset Thermoreflectance with Bayesian Optimization to Measure the Anisotropic Thermal Properties of Semiconductor Superlattices.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Chatterjee, A., N. Spitzer, T. Kruck, P. Song, A. Ludwig, A. D. Wieck, J. Ordonez-Miranda, und M. Pawlak. Beam-Offset Thermoreflectance with Bayesian Optimization to Measure the Anisotropic Thermal Properties of Semiconductor Superlattices. 2026.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Chatterjee, A., et al. Beam-Offset Thermoreflectance with Bayesian Optimization to Measure the Anisotropic Thermal Properties of Semiconductor Superlattices. 2026.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.