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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Artículo científico |
| Sprache: | es |
| Veröffentlicht: |
Instituto Tecnológico Metropolitano
2007
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=344234311005 |
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Inhaltsangabe:
- Reconstrucción del Perfil de Índice de Refracción de una Fibra Óptica de Silicio Puro por el Método de los Elementos Finitos y el Patrón de Campo Cercano Luis Fernando Castrillón-Gallego Ingeniería fibra óptica campo cercano Perfil de índice elementos finitos El presente trabajo muestra una técnica para reconstruir elperfil de índice de refracción (PIR) de fibras ópticas, basado enla comparación de los patrones de intensidad del modo de propagaciónfundamental obtenido experimentalmente y el logradoteóricamente a través del método de elementos finitos, utilizandouna función de mérito para ajustar parámetros. Para validar latécnica se aplica a una fibra de núcleo de silicio puro cuyo perfilde índice de refracción ha sido medido por el método de campocercano refractado (RNF). 2007 artículo científico 0123-7799 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=344234311005 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=3442 TecnoLógicas application/pdf Instituto Tecnológico Metropolitano TecnoLógicas (Colombia) Num.18