Skip to content
VuFind
  • Login
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
Advanced
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Save to List
  • Permanent link
Cover Image

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Julio Enrique Duarte
Format: Artículo científico
Language:es
Published: Universidad de Antioquia 2010
Subjects:
Ingeniería
fibra óptica
Interferometría
micromembranas de silicio
Online Access:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=43019938016
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
  • Holdings
  • Description
  • Table of Contents
  • Comments
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=43019938016

Similar Items

  • Instrumentación y diseño de una fuente de alto voltaje para fabricar rejillas de fibra óptica mediante la técnica de arco eléctrico
    by: J.C. Hernández-García
    Published: (2010)
  • Un método de monitoreo del desgaste de una herramienta de corte basado en un sensor de proximidad de fibra óptica
    by: E. Castillo-Castañeda
    Published: (2006)
  • Interferometria por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
    by: P. J. E. Rueda
    Published: (2006)
  • Sistema Experimental para el Estudio de Microdeformaciones Mecánicas Mediante Anisotropía Óptica Inducida
    by: Carlos H. Saucedo-Zárate
    Published: (2010)
  • Supresión de una línea de emisión infrarroja a 1550 nm, mediante un sistema de rejilla Bragg de fibra óptica sintonizada por tensión mecánica
    by: Raúl Benítez-Álvarez
    Published: (2020)

Search Options

  • Search History
  • Advanced Search

Find More

  • Browse the Catalog
  • Browse Alphabetically
  • Explore Channels
  • Course Reserves
  • New Items

Need Help?

  • Search Tips
  • Ask a Librarian
  • FAQs