G, F. N. J. (2008). LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS. Universidad Tecnológica de Pereira.
Style de citation Chicago (17e éd.)G, FRANCY NELLY JIMÉNEZ. LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS. Universidad Tecnológica de Pereira, 2008.
Style de citation MLA (9e éd.)G, FRANCY NELLY JIMÉNEZ. LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS. Universidad Tecnológica de Pereira, 2008.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.