Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Artículo científico |
| Lingua: | es |
| Pubblicazione: |
Universidad Tecnológica de Pereira
2008
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84920503063 |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Sommario:
- LA TÉCNICA DE FOTORREFLECTANCIA PARA ANALIZAR PROPIEDADES ÓPTICAS Y MECÁNICAS DE MUESTRAS SEMICONDUCTORAS FRANCY NELLY JIMÉNEZ G. CARLOS VARGAS HERNÁNDEZ JESÚS FABIÁN JURADO Ingeniería Puntos críticos Fotorreflectancia Espectroscopía de Modulación Se presenta una revisión de la técnica de Fotorreflectancia (FR) desde su fundamentación teórica hasta algunas de sus aplicaciones. La fotorreflectancia es una técnica de modulación no destructiva que no requiere preparación previa de la muestra, es empleada ampliamente para el estudio de la estructura electrónica de semiconductores, con ella se pueden determinar las energías de los puntos críticos las cuales brindan información, entre otras de los esfuerzos presentes en las muestras. 2008 artículo científico 0122-1701 https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=84920503063 es http://www.redalyc.org/revista.oa?id=849 Scientia Et Technica application/pdf Universidad Tecnológica de Pereira Scientia Et Technica (Colombia) Num.39 Vol.XIV