Aller au contenu
VuFind
  • Connexion
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
Recherche avancée
  • Citer
  • Envoyer par SMS
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Ajouter aux favoris
  • Permalien
Image de couverture de livre

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Emma Yhnell, Dorothy Tse
Format: Artículo Open Access
Publié: Wiley 2026
Sujets:
European Journal of Neuroscience
Accès en ligne:https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/ejn.70478
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
  • Exemplaires
  • Description
  • Table des matières
  • Commentaires
  • Documents similaires
  • Affichage MARC

Internet

https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1111/ejn.70478

Documents similaires

  • Temporal Flexibility in Associative Memory: Insights From Synaptic Tagging and Capture
    par: Amrita Benoy, et autres
    Publié: (2025)
  • When Testing Becomes Learning—Underscoring the Relevance of Habituation to Improve Internal Validity of Common Neurocognitive Tests
    par: Konstantin Warneke, et autres
    Publié: (2025)
  • Toward an Automatic Classification of the Different Stages of Sleep: Exploring Patterns of Neural Activity in the Subthalamic Nucleus
    par: Nathan Barbe, et autres
    Publié: (2025)
  • Correction to ‘Toward an Automatic Classification of the Different Stages of Sleep: Exploring Patterns of Neural Activity in the Subthalamic Nucleus’
    Publié: (2025)
  • RETRACTION: Neuroprotective Activities of Activated Protein C Mutant With Reduced Anticoagulant Activity
    Publié: (2024)

Options de recherche

  • Historique de recherche
  • Recherche avancée

Autres modes de recherche

  • Parcourir le catalogue
  • Parcours alphabétique
  • Explorer avec les canaux
  • Exemplaires mis en réserve pour un cours
  • Nouveautés

Besoin d'aide ?

  • Astuces pour la recherche
  • Contacter un bibliothécaire
  • FAQ